56 |
X-선회절분석기 X-RAY DIFFRACTOMETER
MXP18-HF
물질구조분석
T. 279-2925
|
MXP18-HF |
물질구조분석 |
279-2925 |
55 |
UV/VIS분광광도계 UV/VIS SPECTROPHOROMETER
Cary 5000
흡수도, 반사도, 투과도
T. 279-8270
|
Cary 5000 |
흡수도, 반사도, 투과도 |
279-8270 |
54 |
UV/VIS분광광도계 UV/VIS SPECTROPHOTOMETER
V-530
흡광도실험
T. 279-8618
|
V-530 |
흡광도실험 |
279-8618 |
53 |
UV/VIS분광광도계 UV/VIS SPECTROPHOTOMETER
UV-2501PC
정량분석, 분체 회절시험
T. 279-8275
|
UV-2501PC |
정량분석, 분체 회절시험 |
279-8275 |
52 |
LCR 측정기 LCR METER
4284A
전기적 특성을 관찰하는 기기
T. 279-8388
|
4284A |
전기적 특성을 관찰하는 기기 |
279-8388 |
51 |
회화로 FURNACE
DMBF 12/150
Furance, CVD, Reactor
T. 279-8388
|
DMBF 12/150 |
Furance, CVD, Reactor |
279-8388 |
50 |
화학흡착분석기 CHEMISORPTION ANALYZER
AutoChem II 2920
화학흡착량분석, 금속 분산도
T. 279-8260
|
AutoChem II 2920 |
화학흡착량분석, 금속 분산도 |
279-8260 |
49 |
형광현미경 FLUORESCENCE MICROSCOPE
HAL100
TRANSMISSION, REFLECTION
T. 279-2947
|
HAL100 |
TRANSMISSION, REFLECTION |
279-2947 |
48 |
표면적분석장치 SURFACE CHARACTERIZING SYSTEM
ASAP 2010
표면적 분석
T. 279-2925
|
ASAP 2010 |
표면적 분석 |
279-2925 |
47 |
추출장치 EXTRACTION UNIT
Avanti soxtec
고체상 추출, 용매추출, 토양환경시료 추출
T. 279-8650
|
Avanti soxtec |
고체상 추출, 용매추출, 토양환경시료 추출 |
279-8650 |
46 |
총유기탄소분석기 TOTAL ORGANIC CARBON ANALYZER
TOC-5000A
액체중의탄소총량측정, 총 유기탄소측정
T. 279-8650
|
TOC-5000A |
액체중의탄소총량측정, 총 유기탄소측정 |
279-8650 |
45 |
초음파분쇄장치 ULTRASONIC PROCESSOR
GEX750-5B
초음파 파쇄
T. 279-8275
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GEX750-5B |
초음파 파쇄 |
279-8275 |
44 |
초박편미세절단기 ULTRAMICROTOME
MT-7000
고분자미세절단
T. 279-2932
|
MT-7000 |
고분자미세절단 |
279-2932 |
43 |
질소산화물측정기 NO/NO2/NOX ANANLYZER
MODEL 42C
질소산화물측정, NOX
T. 279-8273
|
MODEL 42C |
질소산화물측정, NOX |
279-8273 |
42 |
증착기 SPUTTER
주문제작
이온증착기, 박막증착
T. 279-5957
|
주문제작 |
이온증착기, 박막증착 |
279-5957 |